XRF貴金屬分析儀原理

由高能X射線激發(fā)原子電子層，使得原子核外電子發(fā)生躍遷，造成二次X射線能量釋放，因不同的元素釋放的能量具有不同特性，探測系統(tǒng)測量這些能量和數(shù)量，從而計算元素含量。

主要組成部件

高壓-光管-探測器與前放-主放-DPP-控制模塊-通信模塊-顯示系統(tǒng)等

X射線應(yīng)該分析儀結(jié)構(gòu)方框圖 

XRF貴金屬分析儀優(yōu)勢和特點

。超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超人性化界面

。易于使用，一鍵操作，即可獲得克拉等級及組成成份的分析結(jié)果

。有助于識別鍍金樣件的創(chuàng)新型功能

。機身結(jié)構(gòu)小巧結(jié)實，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室

。按下按鈕的數(shù)秒之內(nèi)，即可得到有關(guān)樣件的化學(xué)成份和克拉等級的精確結(jié)果

。使用PC機和軟件，可以迅速方便地制作樣件的檢驗結(jié)果證書

。用戶通過攝像頭及艙內(nèi)照明系統(tǒng)，可看到樣件測試位置，提升了用戶對測試信心

性能及配置：

分析范圍1ppm to 100 %

精度RSD≤0.05% Au≥90%

測試樣品的物理狀態(tài)固體、粉末、液體

感興趣元素貴金屬Au, Ag, Pt, Pd, Ru, Rh, W, Os, Ir, etc.

基本金屬Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Cd, Sn, Pb, etc.

儀器環(huán)境要求

環(huán)境溫度15° C~30° C

相對濕度35%一70%