貴金屬檢測儀原理：

由高能X射線激發(fā)原子電子層，使得原子核外電子發(fā)生躍遷，造成二次X射線能量釋放，因不同的元素釋放的能量具有不同特性，探測系統(tǒng)測量這些能量和數(shù)量，從而計算元素含量。

主要組成部件：

高壓-光管-探測器與前放-主放-DPP-控制模

塊-通信模塊-顯示系統(tǒng)等

對貴金屬進行分析和克拉級別鑒定

目前使用XRF分析儀對貴金屬進行化學成份分析及純度成色判斷已經(jīng)成為一種廣泛應用、極受歡迎，并且有國家標準的支持，且性能可靠的方法。與火花試金法和化學試劑測試法相比，使用XRF對貴金屬進行分析是一種更迅速、更經(jīng)濟的多元素檢測方法。

優(yōu)勢和特點：

。超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超人性化界面

。易于使用，一鍵操作，即可獲得克拉等級及組成成份的分析結果

。有助于識別鍍金樣件的創(chuàng)新型功能

。機身結構小巧結實，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室

貴金屬檢測儀硬件性能及優(yōu)勢：

超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作

超快檢測速度、超人性化界面

超清攝像頭

光管電壓5KV - 50KV

高壓電源0 ~ 50KV Spellman(USA)

光管管流0μA~ 1000μA

濾光片可選擇多種定制切換

探測器Si-pin

分辦率Si-pin160土5eV

多道分析器JPSPEC-DPP

樣品腔尺寸310*280*